文章摘要:贵金属饰品市场常出现掺假黄金侵犯消费者权益事件，实验室常用X射线荧光光谱法（XRF）检测饰品元素含量，但此法对于表面覆盖层较厚的样品存在局限性。本文利用超声显微镜对银镀金和铜镀金样品进行测试，得到超声衰减系数与表面镀层厚度间的关系曲线，能够实现对镀层样品厚度的定量分析，在无损前提下得到贵金属样品内部信息，对于未来珠宝检测行业具有重要指导意义。

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论文分类号:TS934.3;TH742

文章来源：《材料研究学报》 网址: http://www.clyjxbzz.cn/qikandaodu/2021/1118/1943.html